電壓跌落試驗（DIP）是電磁兼容性（EMC）測試中的一項重要內(nèi)容，旨在評估電氣和電子設(shè)備在電源電壓突然下降時的性能穩(wěn)定性和適應(yīng)性。以下是對電壓跌落試驗（DIP）的詳細(xì)解析：

一、試驗?zāi)康?/span>

       電壓跌落試驗的主要目的是模擬電網(wǎng)電壓突然下降的情況，以評估設(shè)備對電源電壓跌落的抵抗能力。通過該試驗，可以了解設(shè)備在電壓跌落過程中的行為表現(xiàn)，為產(chǎn)品的設(shè)計和改進提供重要參考。

二、試驗標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范

      EMS測試是評估電子產(chǎn)品對電磁干擾的敏感程度的重要指標(biāo)。在EMS測試中，DIP（電壓跌落）測試是其中之一。DIP測試主要模擬電源系統(tǒng)瞬時電壓下降的現(xiàn)象，用于評估設(shè)備在電壓波動下的性能。

      DIP測試的標(biāo)準(zhǔn)主要模擬電源系統(tǒng)瞬時電壓下降的現(xiàn)象，用于評估設(shè)備在電壓波動下的性能。

      DIP測試的標(biāo)準(zhǔn)主要參考國際電工委員會（IEC）和國際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）的相關(guān)規(guī)定。具體測試標(biāo)準(zhǔn)如下：

      1、IEC 61000-4-11：電磁兼容性（EMC）-第4-11部分：電壓跌落和短時中斷抗擾度試驗。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電壓跌落和短時中斷測試的方法和驗收準(zhǔn)則。

      2、GB/T 17626.11-2008：電磁兼容性（EMC）-第11部分：電壓跌落和短時中斷抗擾度試驗。這是我國針對電磁兼容性測試的標(biāo)準(zhǔn)，等同采用IEC 61000-4-11。

     3、GB/T 1865-2009：電氣照明和類似設(shè)備的電磁兼容性。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電壓跌落和短時中斷抗擾度試驗的要求和試驗方法。

     在進行DIP測試時，需要根據(jù)以上標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗方法和驗收準(zhǔn)則對產(chǎn)品進行測試。測試設(shè)備應(yīng)具備相應(yīng)測試能力，如電壓跌落發(fā)生器、示波器等。通過DIP測試的產(chǎn)品表明其在電壓波動環(huán)境下具有較好的抗干擾性能。

三、試驗條件

     電壓等級：試驗電壓等級通常根據(jù)設(shè)備的額定輸入電壓和市場需求進行設(shè)定。常見的電壓等級包括額定電壓的0%（即完全斷電）和*高及*低額定電壓的70%等。

     持續(xù)時間：電壓跌落的持續(xù)時間也是試驗的重要參數(shù)之一。持續(xù)時間的長短取決于設(shè)備的特性和市場需求。一般來說，持續(xù)時間可以從幾毫秒到幾秒不等。

     跌落深度：跌落深度是指電壓跌落到額定電壓以下的部分。跌落深度的大小直接影響設(shè)備對電壓跌落的抵抗能力。

四、試驗方法

      電壓跌落試驗通常使用專門的測試設(shè)備，如抽頭自耦變壓器和抗擾度測試系統(tǒng)等。試驗過程中，測試設(shè)備會模擬不同長度和嚴(yán)重性的電壓跌落情況，并記錄設(shè)備的響應(yīng)情況。

五、試驗等級

 ?    IEC 61000-4-11標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度測試方法和等級范圍。? 該標(biāo)準(zhǔn)適用于額定輸入電流每相不超過16A、連接到50Hz/60Hz交流電網(wǎng)的電氣和電子設(shè)備?12。

     根據(jù)IEC 61000-4-11標(biāo)準(zhǔn)，電壓暫降的測試等級以%UT（暫降后剩余電壓為參考電壓的百分比）表示，常見的測試等級包括0%、40%、70%、80%等。短時中斷一般指電源完全中斷達250個周期（50Hz）或300個周期（60Hz）。電壓變化通常指突變到70%后維持一個周期，再經(jīng)過25/30個周期后恢復(fù)到參考電壓的情況?24。

    IEC 61000-4-11標(biāo)準(zhǔn)的測試等級范圍包括但不限于以下幾種情況：

?       電壓暫降?：測試電壓在短時間內(nèi)下降，常見的測試等級有0%、40%、70%、80%等?。

 ?      短時中斷?：電源完全中斷一段時間，通常為250個周期（50Hz）或300個周期（60Hz）?。

 ?      電壓變化?：電壓在短時間內(nèi)變化，例如突變到70%后維持一個周期，再恢復(fù)到參考電壓?。

       這些測試等級的范圍和具體要求旨在評估電氣和電子設(shè)備在電壓暫降、短時中斷和電壓變化情況下的抗擾度性能?。

五、性能評判標(biāo)準(zhǔn)

       性能評判標(biāo)準(zhǔn)通常包括設(shè)備在電壓跌落過程中的穩(wěn)定性、恢復(fù)能力、故障率等指標(biāo)。具體來說：

       穩(wěn)定性：設(shè)備在電壓跌落過程中應(yīng)能夠保持穩(wěn)定工作，不出現(xiàn)異常現(xiàn)象或故障。

      恢復(fù)能力：電壓恢復(fù)后，設(shè)備應(yīng)能夠迅速恢復(fù)正常工作狀態(tài)，且性能不受影響。

      故障率：在電壓跌落試驗中，設(shè)備的故障率應(yīng)低于一定的閾值，以確保產(chǎn)品的可靠性和**性。

六、試驗意義與應(yīng)用

      意義：電壓跌落試驗是評估設(shè)備在電源電壓突然下降時的性能穩(wěn)定性的重要手段。通過該試驗，可以了解設(shè)備對電源電壓變化的適應(yīng)性和穩(wěn)定性，為產(chǎn)品的設(shè)計和改進提供重要參考。

      應(yīng)用：電壓跌落試驗廣泛應(yīng)用于各類電氣和電子設(shè)備的生產(chǎn)和研發(fā)過程中。通過該試驗，可以確保設(shè)備在電源電壓跌落時能夠正常工作或至少不會受到嚴(yán)重?fù)p害，從而提高產(chǎn)品的可靠性和**性。

      綜上所述，電壓跌落試驗（DIP）是電磁兼容性測試中的一項重要內(nèi)容。通過該試驗，可以評估設(shè)備在電源電壓突然下降時的性能穩(wěn)定性和適應(yīng)性，為產(chǎn)品的設(shè)計和改進提供重要參考。同時，該試驗也是確保產(chǎn)品可靠性和**性的重要手段之一。